CT6704、CT6705是采用磁通门方式的新一代电流探头。即使在高频/大电流条件下也能抑制发热，实现更安全、稳定的波形观测。为支撑重要设计决策的电流波形观测提供可靠的保障。

在不断发展的高速开关SiC/GaN 评估中，正确捕捉包含高速上升沿的电流波形至关重要。CT6704、CT6705 的宽频带性能，能够更可靠地对包含此类高频成分的波形进行观测。

通过热像仪观察高频、大电流条件下的发热比较

在高频电流的测量中，由于探头内部会产生感应加热，测量电流受到限制。因此，过大的输入可能会导致测试中的故障风险升高。CT6704、CT6705的设计大幅降低了这种感应加热，让评估人员能够更安全、更稳定地测量高频、大电流波形。

注：在相同条件下，对本机型与传统机型进行比较。图片为使用热像仪测量的结果。

抑制高频、大电流测量时的感应加热，可在更广泛的条件下安全使用。扩大降额条件下的实用区域，即使在严苛评估中也能放心测量。

采用磁通门方式，降低了因自身发热引起的偏移漂移。即使在环境温度变化或长时间测量时，也能实现稳定的波形观测。

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同一款电流探头可以在不同品牌的示波器或研究/评估环境中通用。由于不限定于特定设备，因此能够提高设备运用的灵活性，有助于有效利用现有条件，构建高效的测量环境。

此外，在 HIOKI 的存储记录仪 MR6000 中，作为支持传感器供电的一体化 HIOKI 解决方案，可从波形观测到记录顺畅完成。

关于BBU负载波动测试的具体配置和应用案例，我们在产品手册中进行了详细介绍。